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Microtecnologías y microsistemas | Caracterización y testing

Sala limpia

Caracterización y testing

Este sector  se encuentra destinado a la caracterización y ensayo de los dispositivos microelectrónicos y MEMS a nivel prototipo fabricados en la sala limpia del centro y/o provenientes de procesos de fabricación estándar de foundries externas.
Cuenta con el equipamiento necesario para medir dispositivos a nivel de oblea y/o encapsulados con señales de continua y bajas frecuencias.

Equipos
Estación de pruebas manual- Wentworth Lab Keithley -Instrumental para caracterzación

Estación de pruebas manual- Wentworth Lab
*mediciones a nivel de oblea,
*chuck con capacidad para obleas de hasta 8 pulgadas.
*sistema de calefacción del plato con controlador de temperatura hasta 300 °C.
*6 micromanipuladores manuales con resolución de 2μm.
*2 micromanipuladores motorizados controlados por software.
*microscopio óptico con foco manual, ocular 10x y objetivos de 2x, 10x y 20x.
*sistema de video color con cámara CCD. *captura de imágenes y video.
*mesa antivibratoria.

Keithley -Instrumental para caracterzación
*sistema de caracterización de semiconductores modular integrado modelo 4200-SCS.
*6 unidades de medición e inyección de señal (SMU).
*2 pre-amplificadores.
*2 generadores de pulsos.
*Analizador de CV modelo 590 para medición en alta frecuencia (100 KHz/1MHz).
*matriz de interconexión modelo 707Acon una tarjeta matricial para medición en baja corriente modelo 7174A de 12x8 expandible hasta 72x8.
INFORMACION GENERAL

CAMPOS DE ACCION Y SERVICIOS
Microtecnologías y Microsistemas
Seguridad eléctrica
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