| Nanometrología
Trazabilidad del nanometro al metro. El INTI es responsable legal de los patrones nacionales de medida, entre ellos el metro. La trazabilidad en la nanoescala, que actualmente llega a los 500 nanometros, correspondiente al radiaciones en el espectro visible, debe extenderse hacia abajo hasta el nanometro. Se siguen los desarrollos internacionales en la materia y se trabajará junto con el INMETRO de Brasil a través de proyectos del Centro Argentino Brasilero de Metrología. El desarrollo de micro-nanosensores, como por ejemplo para detectar radiación infrarroja, también requiere trazabilidad al radiómetro criogénico disponible en el INTI como patrón primario de radiación.
El desarrollo de un conversor de AC/DC con tecnología MEMS diseñado en el INTI y realizado en Alemania en el marco de una tesis doctoral, constituye el dispositivo clave que asegura la trazabilidad de todas las mediciones eléctricas industriales a los patrones cuánticos del volt y el ohm mantenidos en el INTI. Se proyecta el desarrollo de un nuevo conversor AC/DC basado en microsensores de infrarrojo.
Se estudian superficies autolimpiantes para aplicaciones metrológicas que requieren un control crítico de la limpieza de superficies.
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